- 儀器介紹
近代科學(xué)技術(shù)的許多學(xué)科對各種薄膜的研究和應(yīng)用日益廣泛,因此,測得薄膜厚度和光學(xué)參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實際工作中,常常使用橢圓偏振法來進(jìn)行測量。這種方法測量靈敏度和精度較高,并且是非破壞性測量。他能同時測定薄膜的厚度和折射率。
本產(chǎn)品為手動方式調(diào)節(jié)儀器,測量薄膜的厚度和光學(xué)參數(shù)。清晰的展示了橢圓偏振測厚儀的各個部件的結(jié)構(gòu)功能,調(diào)節(jié)方法,使用戶可詳細(xì)的了解橢圓儀的原理結(jié)構(gòu),并培養(yǎng)其動手操作能力。